view in publisher's site

Rapid electron backscatter diffraction mapping: Painting by numbers

Highlights•We segment colour forescatter electron images into distinct regions of common contrast.•For each region, obtain one EBSD pattern to measure phase and crystal orientation.•Our static sparse sampling method is reconstructed, providing 100× speed up for microstructure mapping.AbstractMicrostructure characterisation has been greatly enhanced through the use of electron backscatter diffraction (EBSD), where rich maps are generated through analysis of the crystal phase and orientation in the scanning electron microscope (SEM). Conventional EBSD analysis involves raster scanning of the electron beam and serial analysis of each diffraction pattern in turn. For grain shape, crystallographic texture, and microstructure analysis this can be inefficient. In this work, we present Rapid EBSD, a data fusion approach combining forescatter electron (FSE) imaging with static sparse sampling of EBSD patterns. We segment the FSE image into regions of similar colour (i.e. phase and crystal orientation) and then collect representative EBSD data for each segmented region. This enables microstructural assessment to be performed at the spatial resolution of the (fast) FSE imaging whilst including orientation and phase information from EBSD analysis of representative points. We demonstrate the Rapid EBSD technique on samples of a cobalt based superalloy and a strained dual phase titanium alloy, comparing the results with conventional analysis. Rapid EBSD is advantageous for assessing grain size distributions in time-limited experiments.Graphical AbstractDownload high-res image (177KB)Download full-size image

نگاشت پراش پراکندگی الکترونی: نقاشی با اعداد

کاره‌ای مهم: ما تصاویر رنگی forescatter رنگی را به مناطق مختلف کنتراست مشترک تقسیم‌بندی می‌کنیم. برای هر منطقه، یک الگوی ebsd برای اندازه‌گیری فاز و جهت گیری کریستال بدست می‌آید. با استفاده از پراش پراکندگی الکترونی (ebsd)، که در آن نقشه‌های غنی از طریق آنالیز فاز کریستالی و جهت‌یابی در میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)ایجاد شده‌اند، روش نمونه‌برداری پراکنده استاتیک ما بازسازی شده‌است. آنالیز ebsd مرسوم شامل اسکن raster از باریکه الکترونی و آنالیز سریالی هر الگوی پراش در عوض است. برای شکل دانه، بافت کریستالوگرافی و آنالیز میکروساختار، این می‌تواند ناکارآمد باشد. در این کار، ما ebsd سریع را ارایه می‌دهیم، یک روش ترکیب داده ترکیب‌شده با استفاده از تصویر برداری های الکترونی forescatter (fse)با نمونه‌برداری پراکنده از الگوهای ebsd. ما تصویر fse را به بخش‌هایی از رنگ مشابه (فاز و جهت گیری بلور)تقسیم‌بندی می‌کنیم و سپس داده‌های ebsd نماینده برای هر ناحیه بندی را جمع‌آوری می‌کنیم. این کار ارزیابی ریزساختاری را قادر می‌سازد تا در تفکیک فضایی تصویر برداری fse (سریع)، از جمله جهت گیری و اطلاعات فاز از آنالیز ebsd نقاط نماینده، انجام شود. ما تکنیک سریع ebsd را بر روی نمونه‌های یک سوپر آلیاژ پایه کبالت و یک آلیاژ تیتانیوم فاز دوتایی تحت فشار نشان می‌دهیم و نتایج را با تحلیل مرسوم مقایسه می‌کنیم. ebsd سریع برای ارزیابی توزیع اندازه دانه در تصویر محدود به زمان مفید است (۱۷۷ کیلوبایت)تصویر با اندازه کامل را بارگیری می‌کند.

ترجمه شده با

Download PDF سفارش ترجمه این مقاله این مقاله را خودتان با کمک ترجمه کنید
سفارش ترجمه مقاله و کتاب - شروع کنید

95/12/18 - با استفاده از افزونه دانلود فایرفاکس و کروم٬ چکیده مقالات به صورت خودکار تشخیص داده شده و دکمه دانلود فری‌پیپر در صفحه چکیده نمایش داده می شود.