Potential-Modulated Attenuated Total Reflectance Characterization of Charge Injection Processes in Monolayer-Tethered CdSe Nanocrystals
ویژگی بازتابندگی کل وابسته به پتانسیل فرآیندهای تزریق بار در نانوکریستال های CdSe تک لایه محدود شده
ترجمه شده با 
با استفاده از افزونه دانلود فایرفاکس چکیده مقالات به صورت خودکار تشخیص داده شده و دکمه دانلود فری‌پیپر در صفحه چکیده نمایش داده می شود.
ترجمه کنید