view in publisher's site

Reliability of packaged MEMS in shock environment: crack and striction modeling

عنوان < قابلیت اطمینان of بسته‌بندی‌شده در محیط شوک: مدلسازی ترک و striction < / عنوان >

ترجمه شده با

Download PDF سفارش ترجمه این مقاله این مقاله را خودتان با کمک ترجمه کنید
سفارش ترجمه مقاله و کتاب - شروع کنید

95/12/18 - با استفاده از افزونه دانلود فایرفاکس و کروم٬ چکیده مقالات به صورت خودکار تشخیص داده شده و دکمه دانلود فری‌پیپر در صفحه چکیده نمایش داده می شود.