view in publisher's site

The effects of deposition time on surface morphology, structural, electrical and optical properties of sputtered Ag-Cu thin films

.The preparation of designed nanostructured thin films combining nano grains of different compositions and physical properties represents a promising avenue for the exploration of novel collective behaviors with technological potentials. Herein, nanostructured Ag-Cu thin films with different surface morphology properties were grown by magnetron sputtering varying the deposition time (4-24 min) and fixing the other deposition conditions. X-ray diffraction studies corroborated that Cu and Ag tend to appear as separated phases with nanometric sizes due to the fact that these elements are rather immiscible. The deposited Cu tended to be partially oxidized with crystal sizes of several tens of nm, whereas the deposited Ag phase displayed a poor crystallinity with an average crystal size of around 3nm. However, at deposition time of few minutes, the formation of Ag-Cu crystals with a preferable crystallization orientation along the [111] direction was detected. The surface morphology of the obtained thin films was studied by atomic force microscopy determining the surface roughness and average particle sizes of the samples. These parameters were correlated with the plasmon resonance extinction bands of the different Ag-Cu films and their electrical properties, providing a reproducible route to obtain thin films with tuned electrical resistances and optical properties.

تاثیر زمان لایه گذاری بر مورفولوژی سطح، ویژگی‌های ساختاری، الکتریکی و نوری لایه‌های نازک Ag - Cu

تهیه فیلم‌های نازک نانوساختار طراحی‌شده ترکیبی از نانو ذرات ترکیب‌های مختلف و خواص فیزیکی نشان‌دهنده یک مسیر امیدبخش برای اکتشاف رفتارهای جمعی جدید با پتانسیل فنی است. لایه‌های نازک Ag، نانوساختار Ag - Cu با ویژگی‌های مورفولوژی سطح متفاوت با روش کندوپاش magnetron با زمان نشست (۴ - ۲۴ دقیقه)و تثبیت شرایط رسوب‌گذاری دیگر مورد بررسی قرار گرفتند. مطالعات پراش اشعه ایکس تایید می‌کند که Cu و Ag به دلیل این واقعیت که این عناصر نسبتا immiscible هستند، فازه‌ای جدا شده با اندازه‌های نانومتری ظاهر می‌شوند. The ته‌نشین شده به طور جزئی با اندازه بلورین چند ده‌ها نانومتر اکسید شده، در حالی که فاز deposited ته‌نشین شده بلوری ضعیفی با اندازه متوسط حدود ۳ نانومتر نشان می‌دهد. با این حال، در زمان نهشته شدن چند دقیقه، تشکیل بلوره‌ای Ag - Cu با جهت گیری ترجیحی در راستای جهت [ ۱۱۱ ] تشخیص داده شد. مورفولوژی سطح لایه‌های نازک حاصل توسط میکروسکوپ نیروی اتمی تعیین شد که زبری سطح و اندازه متوسط ذرات نمونه‌ها را تعیین می‌کند. این پارامترها با باندهای انقراض تشدید plasmon از لایه‌های مختلف Ag - Cu و خواص الکتریکی آن‌ها مرتبط بودند و یک مسیر قابل تکرار برای بدست آوردن لایه‌های نازک با مقاومت الکتریکی تنظیم‌شده و ویژگی‌های نوری فراهم می‌کنند.

ترجمه شده با

Download PDF سفارش ترجمه این مقاله این مقاله را خودتان با کمک ترجمه کنید
سفارش ترجمه مقاله و کتاب - شروع کنید

95/12/18 - با استفاده از افزونه دانلود فایرفاکس و کروم٬ چکیده مقالات به صورت خودکار تشخیص داده شده و دکمه دانلود فری‌پیپر در صفحه چکیده نمایش داده می شود.